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Specifiche

Measuring Instruments

Spettrofotometro CM-3220d

CM-3220d

Specifiche principali CM-3220d

Sistema di illuminazione / osservazioneRiflettanza d:8° con misura contemporanea di SCI (di:8° Componente Speculare Inclusa) e SCE (de:8° Componente Speculare Esclusa)
Conforme agli standard to CIE, ISO, ASTME, DIN e JIS
Dimensioni sferaØ 52 mm
Elemento rivelatore della luceArray di fotodiodi di silicio (doppio a 40 elementi)
Dispositivo di separazione spettraleReticolo a diffusione
Passo lunghezza d'onda360-740 nm, 10 nm
Ampiezza di banda a metà altezzaCirca 10 nm
Campo di riflettanza0-200%, risoluzione 0,01%
Sorgente luminosa2 lampade ad arco Xenon a pulsazioni
Area di misura / illuminazioneØ 8 mm / Ø 11 mm
RipetibilitàRiflettanza spettrale: deviazione standard entro 0,1% (da 360 a 380 nm entro 0,2%) Valore colorimetrico: deviazione standard entro ?E*ab 0,04
Condizioni di misura: misura con piastrella di calibrazione del bianco, ripetuta 30 volte ad intervalli di 10 secondi e dopo aver effettuato la calibrazione del bianco
Accordo interstrumentaleMedia E*ab 0,2 (basata su 12 piastrelle colorate BCRA Serie II)
Dimensioni (L x A x P)232 x 115 x 181 mm
Peso4 kg

Le specifiche sono soggette a variazioni senza preavviso.

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