Technische Daten
Bench-Top Spektralphotometer CM-36d | ||
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Messgeometrie
| Reflexion: di:8° (SCI), de:8° (SCE) (diffuse Beleuchtung: 8° Beobachtung) Entspricht den Standards CIE No.15, lSO7724/1, ASTM E-1164, DIN 5033 Teil 7 sowie JIS Z8722 Condition C | |
Kugeldurchmesser | Ø152 mm | |
Sensor | Duales Silizium-Photodiodenarray (40-Elemente) | |
Monochromator | Planares Beugungsgitter | |
Wellenlängen-Bereich | 360-740 nm | |
Wellenlängen-Intervall | 10 nm | |
Halbwertsbandbreite | ca. 10 nm | |
Photometrischer Bereich | 0-200% | |
Auflösung: 0.01% | ||
Lichtquelle | Xenon-Blitzlampe 1x (NUVC) | |
Lichtquelle Lebensdauer | > 1 Million Messungen | |
Beleuchtete / Messfläche [mm] | LAV: Ø25.4 / Ø30.0 MAV: Ø 8.0 / Ø11.0 SAV:Ø 4.0 / Ø 7.0 | |
Messzeit | Ca. 3,5s (SCI + SCE) | |
Min. Messintervall | Ca. 4s (SCI + SCE) | |
Reproduzierbarkeit | Std. Abw. innerhalb ΔE*ab 0.03 | |
Geräteübereinstimmung (IIA) | innerhalb ΔE*ab 0.15 (LAV/SCI) Mittelwert für Farbkacheln 12 BCRA Serie II verglichen mit Mastergerät | |
UV Kontrolle | Keine Einstellfunktion (UV100%) | |
Probenvorbetrachtung | RGB Kamera | |
Schnittstelle | USB 2.0 | |
Interne Geräteüberprüfung* | WAA (Wavelength Analysis & Adjustment) Technologie | |
Zulässige Betriebsbedingungen | 13-33°C / rH 80% oder weniger (bei 35°C) ohne Kondensation | |
Zulässige Lagerbedingungen | 0-40°C / rH 80% oder weniger (bei 35°C) ohne Kondensation | |
Abmessungen [mm] | 248 x 250 x 498 mm | |
Gewicht [kg] | 8.3 kg |
*Erwerb einer WAA-Lizenz erforderlich.
Änderungen der hier angegebenen technischen Daten und Zeichnungen vorbehalten.
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