• 2D-Messungen mit höchster Präzision bei gleichzeitig minimalen Messzeiten
• Kombination aus 2D-RGB-Sensor mit Spektralradiometer und Flickerdiode
• 150 Megapixelkamera zur Subpixel-Analyse von modernsten Display-Varianten
• Leichte Integration in Produktionslinien

Anwendungsbeispiele

μLED-Displays in der Produktionslinie
Die sehr hohe Auflösung von 150 Megapixels der LumiTop X150 ermöglicht eine vollständige Display-Charakterisierung auf Pixel-Ebene in einer einzigen Aufnahme mit spektralradiometrischer Genauigkeit. Das Messsystem ist leicht in Produktionslinien zu integrieren und somit perfekt geeignet für eine sehr schnelle und subpixelgenaue Qualitätskontrolle von OLEDs und μLED-Displays in der Produktion.

Mixed-Reality-Technologien (AR/VR)
Für Mixed-Reality-Technologien (AR/VR) ist die LumiTop X150 als Laborgerät in der R&D bestens geeignet. Diese innovativen Display-Applikationen setzen auf immer kleinere und dichter gepackte Pixel. Leuchtdichte und Farbabweichungen zwischen Pixeln und Subpixeln sind wahrscheinlich und beeinflussen die visuelle Qualität des Displays stark. Da Augmented-Reality-Brillen oder Virtual-Reality-Headsets sehr nah am Auge des Benutzers sitzen, sind Bildartefakte und Ungleichheiten besonders störend. Um Pixeldefekte zu untersuchen und Abweichungen pixelgenau zu korrigieren hat Instrument Systems die LumiTop X150 entwickelt. Ein integrierter Pixel-Shift-Mechanismus unterdrückt Demosaicing-Artefakte durch Echtfarbmessungen und erhöht die Auflösung auf bis zu 600 Megapixel pro Farbkanal.