Specyfikacja
Spektrofotometry stacjonarne CM-36d | ||
---|---|---|
Układ oświetlenia i pomiaru | Reflektancja: di:8°, de:8° (oświetlenie rozproszone, kąt obserwacji 8°) Zgodność z normami kolorymetrycznymi CIE No.15 (2004), ISO7724/1, ASTM E1164, DIN 5033 Teil7, JIS Z 8722 warunek C. | |
Średnica sfery całkującej | Ø152 mm | |
Detektor | Matryca fotodiod krzemowych (podwójna, 40 fotodiod) | |
Element rozdzielający widmo | Płaska siatka dyfrakcyjna | |
Zakres długości fali światła | 360-740 nm | |
Rozdzielczość widmowa | 10 nm | |
Szerokość połówkowa | ok. 10 nm | |
Zakres reflektancji | 0-200% | |
Rozdzielczość: 0,01% | ||
Źródło światła | ksenonowe lampy błyskowe 1x (NUVC) | |
Średnica pomiaru/oświetlenia [mm] | LAV: Ø30,0 / Ø25,4 MAV: Ø11,0 / Ø8,0 SAV: Ø7,0 / Ø4,0 | |
Czas pomiaru | Ok. 3,5 s (SCI + pomiar SCE) | |
Minimalna przerwa pomiędzy pomiarami | Ok. 4 s (pomiar SCI + SCE) | |
Powtarzalność | Wartości kolorymetryczne: Odchylenie stand. w granicach ΔE*ab 0,03 Spektralny współczynnik odbicia: Std. dev. w granicach 0.1% | |
IIA | Średnia ΔE*ab 0,15 (LAV/SCI) dla pomiaru 12 wzorcowych płytek koloru BCRA serii II w porównaniu do wartości zmierzonych instrumentem odniesienia. | |
Regulacja UV | Brak funkcji ustawienia (100% UV) | |
Podgląd próbki | Kamera RGB | |
Wewnętrzna kontrola sprawności* | Technologia WAA (analiza i regulacji długości fali) | |
Interfejs | USB 2.0 | |
Zakres temperatury/wilgotności otoczenia podczas pracy | od 13 do 33°C, wilgotność względna 80% lub mniej (przy 33°C), bez skraplania | |
Zakres temperatury/wilgotności otoczenia podczas przechowywania | od 0 do 40°C, wilgotność względna 80% lub mniej (przy 35 °C), bez skraplania | |
Wymiary [mm] | 248 x 250 x 498 | |
Masa [kg] | 8.3 kg |
*Wymagany zakup licencji WAA.
Specyfikacja techniczna i wygląd urządzenia mogą zostać zmienione bez uprzedzenia.
Podane nazwy firm i produktów są znakami towarowymi bądź zastrzeżonymi znakami handlowymi odpowiednich firm.